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詞條說明
鋰電池老化通常是指在電池組裝注液完成后次充電化成后的放置,既可以有常溫老化,也可以有高溫老化,目的都是為了保持弟一次充電后形成的 SEI膜的性質(zhì)和組成的穩(wěn)定性。對(duì)鋰電池來說,老化的原則和目標(biāo)一是讓電解液充分滲透,二是讓正、負(fù)極活性材料中的一些活性成分經(jīng)過一定的反應(yīng)而失去活性,從而使電池的整體性能較加穩(wěn)定。在高溫老化之后,電池的性能會(huì)較加穩(wěn)定,大部分的鋰離子電池廠家在生產(chǎn)的時(shí)候,都會(huì)選擇高溫老化的工
冷熱沖擊試驗(yàn)箱可用于半導(dǎo)體芯片的測(cè)試
芯片(chip),又稱微芯片(microchip),是集成電路的載體。一般而言,芯片(IC)泛指所有的半導(dǎo)體元器件,是在硅板上集合多種電子元器件實(shí)現(xiàn)某種特定功能的電路模塊。它是電子設(shè)備中*重要的部分,承擔(dān)著運(yùn)算和存儲(chǔ)的功能。?????溫度的改變對(duì)半導(dǎo)體的導(dǎo)電能力、極限電壓、極限電流以及開關(guān)特性以及開關(guān)特性等都有很大的影響。當(dāng)溫度過高時(shí)元器件體積發(fā)生
UL2054安全標(biāo)準(zhǔn)的電性能測(cè)試
1.短路試驗(yàn):每個(gè)測(cè)試電池樣品正、負(fù)極采取阻值<0.1QCu 線短接,電池放電直至起火或爆炸,或直至電池完全放電,殼體溫度重新降至室溫停止。試驗(yàn)在室溫和60士2℃進(jìn)行,電池在室溫或60℃±2℃達(dá)成和環(huán)境平衡穩(wěn)定后再短接。除非制造商指明是串聯(lián)或并聯(lián),電池應(yīng)單獨(dú)測(cè)試。對(duì)于串聯(lián)或并聯(lián)應(yīng)用,另外五套電池需進(jìn)行測(cè)試,采取電池zui大數(shù)目依據(jù)所用串/并聯(lián)數(shù)目定。當(dāng)電池中有過流或熱保護(hù)裝置時(shí)且已經(jīng)過UL認(rèn)
GB/T2423.1是針對(duì)電工電子產(chǎn)品的標(biāo)準(zhǔn)低溫試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn),等同于**標(biāo)準(zhǔn)IEC60068-2-1。GB/T2423.1低溫試驗(yàn)的步驟如下:1.初步檢測(cè)。通過目視檢查和(或)按相關(guān)規(guī)范要求進(jìn)行功能檢測(cè)來獲知試驗(yàn)樣品的初始狀態(tài)。2.條件試驗(yàn)。試驗(yàn)樣品應(yīng)按相關(guān)規(guī)范的詳細(xì)規(guī)定在低溫條件下暴露至規(guī)定的持續(xù)時(shí)間。如果有試驗(yàn)樣品不能達(dá)到溫度穩(wěn)定的意外情況,整個(gè)試驗(yàn)持續(xù)的時(shí)間應(yīng)該從試驗(yàn)樣品通電時(shí)開始計(jì)算。通常這種
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