X射線熒光光譜儀的儀器類別及特點

時間：2022-05-12

作者：江蘇天瑞儀器股份有限公司

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詞條
詞條說明
X射線熒光光譜儀常見有那幾種分類
波長色散X射線熒光光譜采用晶體或人工擬晶體根據bragg定律將不同能量的譜線分開，然后進行測量。波長色散X射線熒光光譜一般采用X射線管作激發源，可分為順序式(或稱單道式或掃描式)、同時式(或稱多道式)譜儀、和順序式與同時式相結合的譜儀三種類型。順序式通過掃描方法逐個測量元素，因此測量速度通常比同時式慢，適用于科研及多用途的工作。同時式則適用于相對固定組成，對測量速度要求高和批量試樣分析, 順序式與
X射線熒光光譜儀的主要用途
主要使用X射線束激發熒光輻射，第一次是在1928年由格洛克爾和施雷伯提出的。到了現在，該方法作為非破壞性分析技術，并作為過程控制的工具，廣泛應用于采掘和加工工業。原則上，最輕的元素，可分析出鈹（z=4），但由于儀器的局限性和輕元素的低X射線產量，往往難以量化，所以針對能量分散式的X射線熒光光譜儀，可以分析從輕元素的鈉（z=11）到鈾，而波長分散式則為從輕元素的硼到鈾。主要用途儀器是較新型X射線熒光
X熒光光譜鍍層測厚儀
X熒光光譜鍍層測厚儀既滿足原有微小和復雜形態樣品的膜厚檢測功能,又可滿足有害元素檢測及輕元素成分分析,被廣泛應用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量。X熒光光譜鍍層測厚儀配置01 獨立的X/Y/Z軸控制系統02 微焦斑X光管?03 可變高壓電源04 防撞板外加防撞激光保護檢測器對儀器進行雙重安全保護05 Fast-SDD探測器06 雙激光定位裝置07 標配可自動切換的準直
天瑞儀器xrf熒光光譜分析儀
天瑞儀器xrf熒光光譜分析儀詳細資料介紹，天瑞儀器xrf熒光光譜分析儀型號和報價請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司生產銷售的天瑞儀器xrf熒光光譜分析儀edx1800b測試設備，針對EDX 1800B在各個領域的廣泛應用，根據優化產品性能和提高安全防護等級的需求，特別設計該款EDX 1800E。應用新一代的高壓電源和X光管，提高產品的可靠性；利用新X光管的大功率提高儀器的測試效率。應用領域包括：RoH