X光鍍層測(cè)厚儀使用性能特點(diǎn)有哪些？

時(shí)間：2022-06-11

作者：蘇州實(shí)譜儀器有限公司

詞條
詞條說(shuō)明
分享一些有關(guān)“X光鍍層測(cè)厚儀”的使用特點(diǎn)
? ? ? X光鍍層測(cè)厚儀已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品化，我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)鍍層厚度有了明確要求。X射線是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量，測(cè)量范圍較小，X射線法可測(cè)較薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。X射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來(lái)引入微機(jī)技術(shù)后，采用X射線鍍層測(cè)厚儀向微型、
X-RAY鍍層測(cè)厚儀的性能好，實(shí)用性強(qiáng)
? ? ?X-RAY鍍層測(cè)厚儀的原理：? ? ?被分析樣品在X射線照射下發(fā)出的X射線，它包含了被分析樣品化學(xué)組成的信息，通過(guò)對(duì)X射線熒光的分析確定被測(cè)樣品中各組分含量的儀器就是X射線熒光分析儀。由原子物理學(xué)的知識(shí)，對(duì)每一種化學(xué)元素的原子來(lái)說(shuō)，都有其特定的能級(jí)結(jié)構(gòu)，其核外電子都以其特有的能量在各自的固定軌道上運(yùn)行。內(nèi)層電子在足夠能量的X射線
詳細(xì)解析x熒光鍍層測(cè)厚儀的應(yīng)用和性能
? x熒光鍍層測(cè)厚儀采用X熒光分析技術(shù)，可以測(cè)定各種金屬鍍層的厚度，包括單層、雙層、多層及合金鍍層等，可以進(jìn)行電鍍液的成分和濃度測(cè)定。? ? ? x熒光鍍層測(cè)厚儀是能譜分析方法，屬于物理分析方法。樣品在受到X射線照射時(shí)，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會(huì)**出各自特征的X射線，不同的元素有不同的特征X射線、探測(cè)器探測(cè)到這些特征X射線后，將其光信號(hào)
X光鍍層測(cè)厚儀使用性能特點(diǎn)有哪些？
? ? ? X光鍍層測(cè)厚儀采用的是一種XRF光譜分析技術(shù)，X光管產(chǎn)生的X射線打到被測(cè)樣品時(shí)可以擊出原子的內(nèi)層電子，出現(xiàn)殼層空穴，當(dāng)外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來(lái)填充軌道空穴時(shí)，就會(huì)產(chǎn)生特征X射線。X射線探測(cè)器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成易于測(cè)量的電信號(hào)來(lái)得到待測(cè)元素的特征信息。 X光鍍層測(cè)厚儀是將X射線照射在樣品上，通過(guò)從樣品上反射出來(lái)的*二次X射線的