幫您分析高低溫老化試驗(yàn)箱降溫過慢的原因

時(shí)間：2022-09-15作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：260

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  詞條說明

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  ?多數(shù)半導(dǎo)體電子元器件都需要在干燥條件下作業(yè)和存放，潮濕的環(huán)境會腐蝕損壞各類敏感的半導(dǎo)體電子元器件,精密光學(xué)器件等，特別是當(dāng)半導(dǎo)體電子元器件、芯片等原料長期暴露在高濕空氣環(huán)境中時(shí)，如果不及時(shí)采取有效的防潮措施就會導(dǎo)致元件報(bào)廢，并且非常多電子元件是半導(dǎo)體設(shè)備的核心零件，這樣將會直接損壞設(shè)備，影響設(shè)備的正常使用，半導(dǎo)體生產(chǎn)行業(yè)的工廠一般的溫濕度條件為：=22±2°，=45±5%。用合理儲存方

• 宏展科技ISO9001質(zhì)量管理體系認(rèn)證證書

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  1、目的使功能板在一個(gè)具有溫度變化的熱老化設(shè)備內(nèi)，經(jīng)受空氣溫度的變化，通過高溫，低溫，高低溫變化以及電功率等綜合作用，暴露功能板的缺陷，如焊接不佳，元件參數(shù)不匹配，溫漂以及調(diào)試過程中造成的故障，以便以剔除，對無缺陷的功能板將起到穩(wěn)定參數(shù)的作用。2、檢測環(huán)境條件溫度：15~35℃相對濕度：45％~75％大氣壓力：86~106KPa3、老化前的要求3.1觀檢測：所有要老化的功能板需先進(jìn)行目測，對于有明

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