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真空熱試驗模擬 ? 為了檢驗衛星各子系統的電性能并消除其相互的干擾, 需對衛星上廣泛使用的半導體器件進行老化試驗處理, 后來又出現了熱應力篩選試驗。所謂熱應力篩選試驗, 就是在常溫、常壓下進行熱循環試驗, 將潛在的失效通過加大熱應力的辦法將其顯現出來并加以消除, 使器件的失效進入穩定過渡期, 最后在壽命終比前又出現失效高發期。這樣就形成了一浴盆曲線, 即早期和晚期是事故高發期, 中期是
氙燈耐氣候試驗箱/氙燈老化試驗箱 ?氙燈耐氣候試驗箱/氙燈老化試驗箱用途: 宏展播陽系列氙燈氣候試驗箱以氙弧燈為光源,模擬和強化耐候性加速老化的試驗設備,以快速獲得近大氣老化的試驗結果,用來評價材料的耐侯性。耐候試驗是科研生產過程中篩選配方優化產品組成的重要手段,也是產品質量檢驗的一項重要內容,應用材料如涂料、塑料、鋁塑板、以及汽車安全玻璃等產品標準均要求做耐候性試驗。造成材料老化的主要
線性快速溫變試驗箱和非線性快速溫變試驗箱的區別 我們的客戶一般在購買快速溫變試驗箱時可能會考慮不周,知道的只有幾個較基本的參數:像工作室尺寸和溫度范圍,對其升降溫的速率不是很了解。現在我向您介紹購買快速高低溫試驗箱時,還需要知道有關試驗產品的負載情況及升降溫速率是否有線性或非線性的要求。 線性和非線性快速溫變試驗箱的區別: (1)線性是指溫度和時間存在一次方函數關系,即它們之間存在線性關系。如果
半導體芯片高低溫測試是jin屬、元器件、電子汽車配件、化學材料等材料行業經常能用到的測試,用于測試材料結構或復合材料。在經過高溫及較低溫的連續變化環境試驗我們可以檢測出半導體芯片忍受較端溫度變化的程度,得以在短時間內檢測到試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理損傷。在做半導體芯片高低溫測試需要特別注意,在使用的過程中不能輕易打開半導體芯片高低溫測試箱,主要原因如下:1.做半導體芯片高低溫測試時需要用
公司名: 廣東宏展科技有限公司
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