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臺式X熒光光譜儀分析法之一的粉末樣品不存在固體樣品的主要缺點(不能用添加劑)。在各種應(yīng)用中,粉末方法通常既方便又迅速。接下來我們了解下幾個臺式X熒光光譜儀測試時粉末樣品誤差來源。粉末樣品誤差主要來源:(1) 粒度效應(yīng) 粉末樣品粒度效應(yīng)是指被測量樣品中的分析元素的熒光強度變化和樣品的粒度變化有關(guān)。一般來說,被分析樣品的粒度越小,熒光強度越高,輕元素尤甚。原子序數(shù)越小,對粒度越敏感;同一元素粒度越小,
伊瓦特手持式光譜儀在檢測金屬回收材料時,可以按照以下步驟進行:準備工作:首先,確保手持式光譜儀處于正常工作狀態(tài)。插上電源,等待設(shè)備啟動完成。根據(jù)金屬回收材料的特性,選擇合適的測量模式和參數(shù)設(shè)置。樣品準備:準備待測的金屬回收材料樣品。確保樣品的表面清潔,無雜質(zhì)和異物。根據(jù)需要,可能需要對樣品進行切割、打磨或稀釋,以便較好地進行光譜分析。進行測量:將手持式光譜儀對準待測樣品的表面,確保儀器與樣品的接觸
伊瓦特手持光譜儀是基于XRF光譜分析技術(shù)的一種光譜儀,它可以進行快速無損、高精度的檢測,廣泛應(yīng)用于冶全,地質(zhì),有色、等各個領(lǐng)城,尤其是在RoHS檢測領(lǐng)域。創(chuàng)想儀器的手持式光譜儀采用模塊化設(shè)計,主機部件體積小、重量輕、可以輕松應(yīng)對多種場所,對于環(huán)境的要求不高。儀器無須預(yù)熱,即開即用。伊瓦特手持光譜儀在多種領(lǐng)域中游刃有余,受許多生產(chǎn)廠家的青睞。1、檢驗合金材料、庫存材料管理、安裝材料復(fù)檢。在石化建設(shè)、
伊瓦特手持光譜分析儀檢測鋁合金材料的應(yīng)用優(yōu)勢
伊瓦特手持光譜分析儀在檢測鋁合金材料時,展現(xiàn)出多個顯著的應(yīng)用優(yōu)勢。這些優(yōu)勢主要體現(xiàn)在以下幾個方面:實時性:伊瓦特手持光譜分析儀能夠在現(xiàn)場快速獲取鋁合金材料的光譜信息,通過數(shù)據(jù)處理和比對,準確分析出鋁合金的成分組成。這種實時性使得檢測過程*將樣品送至實驗室,大大縮短了檢測周期,提高了檢測效率。便攜性:該分析儀體積小、重量輕,方便攜帶。用戶可以隨時隨地進行測量和分析,*依賴固定的實驗室環(huán)境,使得檢
公司名: 無錫創(chuàng)想分析儀器有限公司杭州分公司
聯(lián)系人: 馬建洲
電 話: 0510-83205379
手 機: 18262253279
微 信: 18262253279
地 址: 江蘇無錫濱湖區(qū)富潤路8號
郵 編: 214161
網(wǎng) 址: glmy6688.b2b168.com
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