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specim高光譜相機應用之一,開發(fā)用于新鮮農產品的分析系統(tǒng)
荷蘭瓦赫寧根大學與研究中心(WUR)開發(fā)了一種智能一體化光譜成像(ASI)實驗室系統(tǒng),用于流程標準化的自動數(shù)據(jù)采集和實時光譜模型部署,搭配SpecimFX10和FX17高光譜相機,在形成光譜范圍互相補足的集成系統(tǒng)后,已證明其能夠可靠地預測食品特性和新鮮農產品分析。高光譜成像在科學和工業(yè)應用中使用了相當長的一段時間,已實證是高級分類和材料分析領域的強大技術。與傳統(tǒng)成像系統(tǒng)相比,高光譜成像超出了可見光
隔振技術可分為被動隔振(又稱無源隔振)和主動隔振(又稱有源隔振)。被動隔振只能對某一特定的窄頻段振動起到衰減作用,而對于隔振對象狀態(tài)變化較大和振動干擾時變性較強的場合不太適合;同時,由于穩(wěn)定性的限制,被動隔振也無法對低頻振動進行衰減。而主動隔振技術是在被控系統(tǒng)中引入次級振源,并通過一定的控制方法調節(jié)次級振源的輸出,使其產生的振動與主振源(干擾)的振動相抵消,從而達到隔振的目的。與被動隔振技術相比,
在使用Alphalas?UPD超快光電探測器時,對于所有遇到光電探測器沒有信號或信號非常小這種問題的客戶,經過事實證明,沒有任何例外的原因都是落在光電探測器芯片敏感區(qū)的輸入光功率太低。用功率僅為1 mW的633nm激光對UPD-50-SP進行測試。首先,我們參考UPD超快光電探測器UPD-50-SP的靈敏度曲線。在633nm,靈敏度為0.5 A/W(或0.5 mA/mW)。因為具有1mW
共焦顯微鏡是一種將照明限制在面積小、衍射有限的光斑上的方法,從而提高分辨率。在經典的單點共聚焦顯微鏡中,一個亮點被聚焦在物體上,來自物體的散射光通過一個針孔,以阻斷聚焦散射光。這會使物體產生非常清晰的光斑圖像,通過掃描和集成,可以產生與標準光學顯微鏡相比具有更高分辨率的全視場圖像。不幸的是,這種掃描光斑的過程意味著在成像速度、視野大小和分辨率之間存在取舍。為了實現(xiàn)更快的成像,人們發(fā)明了更巧妙的照明
公司名: 深圳維爾克斯光電有限公司
聯(lián)系人: 劉先生
電 話: 0755-84870203
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地 址: 廣東深圳龍崗區(qū)龍崗區(qū)平湖街道華南城1號館
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