詞條
詞條說明
1.較大的頭部活動自由度?從固定的頭部姿勢中獲得解放當使用傳統(tǒng)的體視顯微鏡時,使用者必須嚴格限制頭部的活動,否則瞳孔和目鏡之間錯位,無法看清楚放大后的圖像。 由無目鏡光學技術擴大的出射光瞳,無目鏡體視顯微鏡令用戶從固定的頭部姿勢中獲得解放。 操作人員可以任意左右移動頭部,緩解頭部固定姿勢所造成的壓力與疲勞,尤其是當用戶長時間使用顯微鏡時。?2.保持舒適的身體姿勢?增強
傳統(tǒng)測量系統(tǒng)和大多數(shù)傳統(tǒng)的視頻測量顯微鏡都具有共同的光學特性,包括相對較小的視場和較淺的焦距。傳統(tǒng)的比較器通常也有一個淺深度的焦點。視場根據(jù)屏幕大小和放大率而變化。?例如,一個14英寸的零件在比較器100x時一次只能看到零件的0.14英寸,而一個30英寸的零件在比較器10x時,一次只能看到3.0英寸。對于傳統(tǒng)的視頻測量顯微鏡和比較器來說,視場相對較小,為了測量整個部分,需要進行多級平臺移
tpu薄膜翹曲、形變或許發(fā)作的緣故主要有:制品脫模時沒有制冷、制品樣式及薄厚不一樣、填料過多、澆口入料不勻、**出體系不平衡、磨具溫度不勻、質料緩存過多。針對所述問題我們主要的解決辦法有:假如制品脫模時沒有制冷,就延長制冷時刻。制品樣式及薄厚不一樣,一般我們變動成型設計或加上提升肋條。對填料過多,降低注射壓力、速率、時刻和原材料使用量。當澆口入料不勻時,變更澆口或加上澆口總數(shù)。**出體系不平衡,一般只
失效分析意義及操作步驟失效分析的意義主要表現(xiàn)具體來說,失效分析的意義主要表現(xiàn)在以下幾個方面: 失效分析是確定芯片失效機理的必要手段。 失效分析為有效的故障診斷提供了必要的信息。 失效分析為設計工程師不斷改進或者修復芯片的設計,使之與設計規(guī)范較加吻合提供必要的反饋信息。 失效分析可以評估不同測試向量的有效性,為生產測試提供必要的補充,為驗證測試流程優(yōu)化提供必要的信息基礎。失效分析主要步驟和內容:1,
公司名: 似空科學儀器(上海)有限公司
聯(lián)系人: 張經理
電 話: 13817595909
手 機: 18657401082
微 信: 18657401082
地 址: 上海浦東張江浦東新區(qū)碧波路 690 號張江微電子港 7 號樓 6 樓
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網(wǎng) 址: kenndt.cn.b2b168.com
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