防爆高低溫試驗(yàn)箱

時(shí)間：2023-06-16作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：119

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱等

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  詞條說明

• 環(huán)境試驗(yàn)中凝露問題淺析

  環(huán)境試驗(yàn)中凝露問題淺析 1 前言 環(huán)境試驗(yàn)做為檢驗(yàn)提高電子產(chǎn)品可靠性的一種常用手段，廣泛用于電子產(chǎn)品的各個(gè)研發(fā)周期。用于確 定通訊設(shè)備對(duì)環(huán)境的適應(yīng)性。在環(huán)境試驗(yàn)過程中根據(jù)產(chǎn)品的特性，選擇合適的試驗(yàn)方法，對(duì)產(chǎn)品的機(jī)械性 能、電氣性能、物理性能、材料的抗拉強(qiáng)度和抗張力變化、絕緣性能等作出檢驗(yàn)和評(píng)估。只有選擇正確的 試驗(yàn)方法和標(biāo)準(zhǔn)的試驗(yàn)條件下，才能得出正確的試驗(yàn)結(jié)果。在恒定濕熱過程中，要預(yù)熱產(chǎn)品，避免大

• PCB的環(huán)境測(cè)試有哪些類型

  高加速試驗(yàn)加速試驗(yàn)包括高加速壽命試驗(yàn)(HALT)和高加速應(yīng)力篩檢(HASS)。這些測(cè)試評(píng)估產(chǎn)品在受控環(huán)境下的可靠性，包括高溫、高濕和設(shè)備通電時(shí)的振動(dòng)/沖擊測(cè)試。目標(biāo)是模擬可能導(dǎo)致新產(chǎn)品即將失效的條件。在測(cè)試期間，產(chǎn)品在模擬環(huán)境中進(jìn)行監(jiān)控。電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn)通常包括在一個(gè)小的環(huán)境室中進(jìn)行試驗(yàn)。濕度和腐蝕許多PCB將部署在潮濕的環(huán)境中，因此PCB可靠性的常見測(cè)試是吸水測(cè)試。在這種類型的測(cè)試中，PCB在

• 對(duì)于冷熱沖擊試驗(yàn)箱除霜的因素

  ? ?結(jié)霜是箱體內(nèi)的水汽在溫度比較低的情況下，形成的一種凝華現(xiàn)象，為什么會(huì)出現(xiàn)這種情況呢？是因?yàn)橄潴w溫度太低才會(huì)這樣的嗎？?? ??? ? ?冷熱沖擊試驗(yàn)箱的氣流與水分都是利用特定的渠道輸出的，在試驗(yàn)運(yùn)行的過程中因?yàn)樵O(shè)備箱體是處在一個(gè)密封的狀態(tài)，從而形成了一個(gè)密封的閉環(huán)，設(shè)備在進(jìn)行模擬冷熱環(huán)境的時(shí)候，會(huì)出現(xiàn)溫

• 為什么高溫烘箱不能在滿載情況下做試驗(yàn)

  據(jù)標(biāo)準(zhǔn)要求高溫烘箱的工作室容積至少應(yīng)是被測(cè)試產(chǎn)品外廓體積的3～5倍，其理由如下：1、被測(cè)試產(chǎn)品置入箱體后擠占了流暢的通道，通道變窄將導(dǎo)致氣流流速的增加，加速氣流與被測(cè)試產(chǎn)品之間的熱交換。這與環(huán)境條件的再現(xiàn)不符，因?yàn)樵谟嘘P(guān)標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)涉及溫度環(huán)境試驗(yàn)都規(guī)定高低溫試驗(yàn)箱內(nèi)試驗(yàn)樣件周圍的空氣流速不應(yīng)**過1.7m/s，以防止試驗(yàn)樣件和周圍氣氛產(chǎn)生不符合實(shí)際的熱傳導(dǎo)，在空載時(shí)試驗(yàn)箱內(nèi)平均風(fēng)速為0.6～0.8m/