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詞條說明
半導(dǎo)體芯片在進(jìn)行高低溫測(cè)試時(shí)的注意事項(xiàng)
半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試是jin屬、元器件、電子汽車配件、化學(xué)材料等材料行業(yè)經(jīng)常能用到的測(cè)試,用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料。在經(jīng)過高溫及較低溫的連續(xù)變化環(huán)境試驗(yàn)我們可以檢測(cè)出半導(dǎo)體芯片忍受較端溫度變化的程度,得以在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)到試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理損傷。在做半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試需要特別注意,在使用的過程中不能輕易打開半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試箱,主要原因如下:1.做半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試時(shí)需要用
無塵實(shí)驗(yàn)室可以劃分成以下幾個(gè)等級(jí): 1、一級(jí)。di一級(jí)潔凈室,主要用于制造集成電路,其精度要求在亞微米。 2、十級(jí)。十級(jí)無塵室主要用于帶寬小于二微米的半導(dǎo)體工業(yè)。 3、百級(jí)。百級(jí)凈化室,主要是用來做無菌生產(chǎn)的,包括移植手術(shù),收集器皿的生產(chǎn),以及一些*被細(xì)菌感染的病人,比如骨髓移植的病人。 4、千級(jí)。該凈化室主要適用于制作高品質(zhì)的光學(xué)制品,也適用于測(cè)試、航標(biāo)、jing密微細(xì)軸承的安裝。 5、萬級(jí)。
容器的壽命是一般電子產(chǎn)品壽命的較低要求,在高低溫試驗(yàn)箱、高溫老化房等實(shí)驗(yàn)設(shè)備作高低溫試驗(yàn)和老化試驗(yàn)的過程中溫度的影響可以以電容器耐溫程度為主。而10度法則是判斷電容器壽命與溫度之間的關(guān)系的一個(gè)基本的簡(jiǎn)單原則。溫度是環(huán)境應(yīng)力中經(jīng)常的參數(shù),通過高低溫試金箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、恒溫恒濕試驗(yàn)箱等試驗(yàn)設(shè)備得以實(shí)現(xiàn)。材料、產(chǎn)品或者元器件在試驗(yàn)箱中通過電熱管加熱產(chǎn)生溫升,或者高溫(比如70℃,甚至150℃等),或
1.鋰電池的放置存儲(chǔ)①存儲(chǔ)電池應(yīng)在通風(fēng)好,干燥和陰涼的條件高溫或高濕可能引起電池性能的退化和/或表面的腐蝕②電池紙箱的疊放高度不應(yīng)**過制造商規(guī)定的高度。如果太多的電池紙箱疊放,在較下面的紙箱可能變形和電解液泄漏發(fā)生。③避免電池放在陽光直曬的地方或可能淋雨的地方,當(dāng)電池變濕以后,它們的絕緣電阻可能變小,且發(fā)生自放電和腐蝕。過熱可能引起退化。④使用起始包裝儲(chǔ)存電池,當(dāng)電池沒有包裝或混亂,可能引起短路或
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