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霍爾效應瓶壁測厚儀FH7200/FH7400準確測量厚度 ●適用于非磁性材料的測量 ●測量厚度高達10mm ●是復雜形狀的瓶子、鋁罐、玻璃和塑膠工件的理想測量工具 ●用戶菜單控制界面 ●上下文關聯的在線幫助 ●統計過程控制功能 霍爾效應瓶壁測厚儀高精度厚度測量 MiniTest 7400 FH / MiniTest 7200 FH是便攜式的厚度測量工具,可準確測量厚達10mm的材料。便攜而小巧的
測厚儀是否只有人們認知的五大類分類,星楓儀器來詳細講解下測厚儀的分類。 測厚儀一般有以下八種類型?: 1.磁性測厚儀:適用層磁材料上的非導磁層厚度測量。導磁材料一般為:鋼,鐵,銀,鎳。此種方法測量精度高。 2.渦流測厚儀:適用導電金屬上的非導電層厚度測量。此種較磁性測厚法精度低。 3.超聲波測厚儀:目前輛還沒有此種方法測量涂鍍層厚度的,國外個別廠家有這樣的儀器,適用多層涂鍍層厚度的測量或者是以上
XF-FGH-1光合有效輻射計 本儀器主要用于農、林等研究和生產部門進行光合有效輻射的測量。其特點是探頭的光譜響應模擬光合有效函數,儀器數字顯示,小巧便攜,有良好的準確性和穩定性。 技術指標: * 輻照度測量范圍: (1×10-4~1.999×102) mW/cm2 (注:1mW/cm2 = 46.0μmol / m2·s = 45.7μE / m2·s =2.77×1019 Photon/m2
一、概述 MC-2000A型涂層測厚儀(鍍層測厚儀)測量范圍:0~1200um,是**的結晶,它采用單片機技術,精度高、數字顯示、示值穩定、功耗低、操作簡單方便、無校正旋鈕、單探頭全量程測量、體積小、重量輕;且具有存儲、讀出、統計、低電壓指示、零點校準、兩點校準及系統校準,其性能達到當代**同類儀器的**水平。 涂層測厚儀應用范圍: 本儀器采用磁性測厚法,可以方便無損地測量鐵磁材料上非磁性涂
公司名: 南昌星楓儀器有限公司
聯系人: 黃經理
電 話: 0791-85226050
手 機: 15970662315
微 信: 15970662315
地 址: 江西南昌青云譜區南昌市青云譜區三點西路44號
郵 編: 330001
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