陶瓷成分波散分析儀WDX系列

時(shí)間：2020-11-04作者：昆山市周市牧亞凱機(jī)電設(shè)備商行瀏覽：206

昆山市周市牧亞凱機(jī)電設(shè)備商行專(zhuān)注于增塑劑分析儀,手持ROHS光譜儀,手持重金屬光譜儀,ROHS重金屬光譜儀,ROHS有害元素光譜儀,ROHS鹵素檢測(cè)儀,電鍍鍍層測(cè)厚儀,膜厚測(cè)試儀,ROHS指令分析儀,江蘇ROHS2.0分析儀等, 歡迎致電 18550531168

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 陶瓷成分波散分析儀

  WDX-200小型多道X射線熒光光譜儀可配置10個(gè)固定分光道，可同時(shí)分析10種元素。根據(jù)用戶的應(yīng)用要求可配置為從Na到U的任意十種元素。該儀器可廣泛應(yīng)用于水泥、鋼鐵、粉末冶金、煤炭、石油、高嶺土、玻璃、耐火材料、環(huán)保等行業(yè)，是大中型企業(yè)質(zhì)量控制的理想選擇。波散分析儀性能特點(diǎn)粉體樣品或塊樣品快速，非破損分析。采用多路高速M(fèi)CA并行實(shí)時(shí)檢測(cè)各元素譜峰，不僅便于調(diào)試儀器和故障診斷，而且有利于提高儀器穩(wěn)定

• 涂鍍層測(cè)厚儀測(cè)量原理

  涂鍍層測(cè)厚儀測(cè)量原理磁感應(yīng)測(cè)量原理采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來(lái)表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測(cè)頭放在被測(cè)樣本

• XRF鍍層測(cè)厚儀基本原理以組成

  XRF鍍層測(cè)厚儀基本原理以組成XRF指x射線光，是一種識(shí)別樣品中元素類(lèi)型數(shù)量的專(zhuān)業(yè)技術(shù)。用于認(rèn)證所有電鍍行業(yè)范圍內(nèi)的涂層厚度和成分。其較基本的高質(zhì)量特性，加上快速測(cè)量和緊湊的平臺(tái)儀器設(shè)備，可以實(shí)現(xiàn)現(xiàn)場(chǎng)分析，及時(shí)得出結(jié)論。日立X盈光涂層測(cè)厚儀對(duì)涂層進(jìn)行分析，XRF涂層測(cè)厚儀將此信息轉(zhuǎn)換為薄厚測(cè)量值。在進(jìn)行測(cè)量時(shí)，X射線管產(chǎn)生的高效能量x射線根據(jù)焦距聚集，并直接聚集在樣品特別小的區(qū)域（該區(qū)域的大小是光

• ROHS分析儀的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)

  檢測(cè)方法能量散射X熒光光譜分析重量?jī)糁?.19 kg，上電池后1.6 kgX光管X-射線管, W正極, 10-40 kV, 10–50mA, 6個(gè)濾光片位置和5個(gè)濾光片檢測(cè)器Si-PiN二極管檢測(cè)器, 5.95 keV Mn的K-alpha譜線 < 230 eV FWHM， 溫度范圍: -10?C - +50?CLEAP(輕元素測(cè)試軟件)輕元素如Cr, Cl, P的分析精度業(yè)界良好操作扳機(jī)或