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詞條說明
1、原理:X射線照射樣品,經過鍍層界面,射線返回的信號發生突變,根據理論上同材質無限厚樣品反饋回強度的關系推斷鍍層的厚度。理論上兩層中含有同一元素測試很困難(信號分不開)。2、XRF鍍層測厚儀:俗稱X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等。功能:精密測量金屬電鍍層的厚度。應用范圍:測量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成,測量范圍從22(Ti)到92(U)。
鍍層測厚儀可無損地測量磁性金屬基體上非磁性涂層的厚度及非磁性金屬基體上非導電覆層的厚度。具有測量誤差小、可靠性高、穩定性好、操作簡便等特點,是控制和保證產品質量必不可少的檢測儀器,廣泛地應用在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。在生產過程中,了解涂層干燥或固化所需的時間往往是十分重要的:對于多層涂料系統,若了解干燥時間可使操作人員知道下一層何時開始涂裝。涂層的干燥時間包含許多階段。當涂布完
ICP-OES、ICP-MS、AAS傻傻分不清ICP-OES,即電感耦合等離子體(ICP)光譜儀;而ICP-MS,則以ICP方法離子質譜分析。有時,人們會叫它。“ICP質譜分析”。那他們和AAS有什么區別?如何選擇統計分析方法?針對有著ICP-OES有技術背景的人,ICP-MS它是一種以質譜儀器為探測器的等離子體(ICP),但質譜分析學者認為,質譜分析學者認為ICP-MS是一個以ICP質譜儀器為源
ROHS重金屬光譜儀屬貴重精密儀器,使用存放中必須注意保養。1.若儀器放置不用時,就需要用防塵罩蓋好,放在干燥、通風的安全之處。2.在使用中要注意以下幾項:①??? 鍵盤操作,動作要輕,不可用力過猛,以免損壞鍵盤。②??? 向樣品腔內放樣品時,一定要注意清潔,不可使樣品塵粒掉入其中,否則會污染X光管和探測器窗口,造成測量失準和探頭損壞。③
公司名: 昆山市周市牧亞凱機電設備商行
聯系人: 李經理
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手 機: 18550531168
微 信: 18550531168
地 址: 江蘇蘇州昆山市周市鎮青陽北路860號
郵 編:
網 址: skyray1.b2b168.com
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