了解金屬檢測儀的放置環境和維護保養

時間：2022-11-14

作者：江蘇一六儀器有限公司

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膜厚測量儀的工作原理及行業應用介紹
膜厚測量儀對制造行業的材料元素成分和涂鍍膜層分析、環保檢測經過多年的發展，如今在很多行業和領域都已經有了很成熟的應用。但是很多人對于膜厚測量儀的工作原理和行業應用不是很了解，今天就跟著膜厚測量儀廠家一六儀器的小編來了解一下吧。先給大家來說一說膜厚測量儀的工作原理吧。物質在被一定波長的X射線照射時，元素將處于激發狀態而**出光子，形成一種特征X 熒光射線。每一種元素的能量都是一一對應的，探測器在接
rohs測試儀器在生產中的優勢及應用
ROHS測試儀（X射線熒光光譜儀），通常可分為兩大類，即波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)、能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)。由江蘇一六儀器研發的XAU系列測試儀是市面上為數不多的、*、多功能的XRF。由研發人員匠心打造測試儀，采用了新一代設計，是一款*具科技感的一機多用型光譜儀。**的EFP算法和微光聚集技術的同時搭配新一代的多道及時序排列，專精型既保留了**測厚儀檢測微小樣品和
全自動多功能XRF分析儀及應用鄰域
全自動多功能XRF分析儀，搭載全自動移動平臺和影像識別功能，既能檢測納米級厚度、微小樣品和凹槽異形件的膜厚，也可滿足微區RoHS檢測及全元素成分分析。接下來和全自動多功能XRF分析儀優勢及應用鄰域。全自動多功能XRF分析儀優勢：1)搭載微聚焦加強型X射線發生器和**的光路轉換聚焦系統，較小測量面積達0.03mm2;2)擁有無損變焦檢測技術，手動變焦功能，可對各種異形凹槽件進行無損檢測，凹槽深度范圍
X熒光光譜儀兩種分類介紹
隨著科學技術的進步，在60年代初發明了半導體探測器以后，對X-熒光進行能譜分析成了可能。能譜色散型X熒光光譜儀(ED-XRF)，用X射線管產生原級X射線照射到樣品上，所產生的特征X射線(熒光)直接進入半導體探測器，便可以據此進行定性分析和定量分析。接下來和一六儀器了解X熒光光譜儀兩種分類介紹。X-射線熒光光譜儀(XRF)是一種較新型可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的