詞條
詞條說(shuō)明
光譜儀的構(gòu)成解析 一臺(tái)典型的光譜儀主要由一個(gè)光學(xué)平臺(tái)和一個(gè)檢測(cè)系統(tǒng)組成。包括以下幾個(gè)主要部分: 1. 入射狹縫: 在入射光的照射下形成光譜儀成像系統(tǒng)的物點(diǎn)。 2. 色散元件: 通常采用光柵,使光信號(hào)在空間上按波長(zhǎng)分散成為多條光束。 3. 聚焦元件: 聚焦色散后的光束,使其在焦平面上形成一系列入射狹縫的像,其中每一像點(diǎn)對(duì)應(yīng)于一特定波長(zhǎng)。 4. 探測(cè)器陣列:放置于焦平面,用于測(cè)量各波長(zhǎng)像點(diǎn)的光強(qiáng)度。該
運(yùn)用直讀光譜儀對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行成分檢測(cè),在檢測(cè)的過(guò)程當(dāng)中,普遍存在一個(gè)問(wèn)題,相同測(cè)繪人員在通過(guò)同樣的測(cè)量方法和測(cè)量?jī)x器,對(duì)同產(chǎn)品進(jìn)行檢測(cè),但其結(jié)果無(wú)法保證完全相同,在直讀光譜儀分析記過(guò)偏差比較大,分析結(jié)果不穩(wěn)定前提下,我們應(yīng)該從那個(gè)方面入手呢?(1)、檢查分析方法正確與否,如分析模型、分析程序等。(2)、直讀光譜儀室溫、內(nèi)部環(huán)境溫度、濕度太大、氬氣壓力、是否符合分析要求。(3)、若控樣分析數(shù)據(jù)良好,說(shuō)明
新品 | 日立分析儀器推出OE750 — 新一代高性能OES光譜儀,用于全面金屬分析控制
由于復(fù)雜的供應(yīng)鏈,以及作為基礎(chǔ)材料使用的廢舊金屬數(shù)量的增加,鑄造廠和金屬制造商在控制熔體中的雜質(zhì)和痕量元素時(shí),面臨著更多的壓力。新型OE750型直讀光譜儀具有**的性能水平。它涵蓋金屬中所有元素的光譜,并實(shí)現(xiàn)對(duì)某些元素的較低檢出限。因此,此款分析儀具備價(jià)格高昂的同類儀器所能提供的功能水平,可為眾多鑄造廠和金屬制造商提供優(yōu)質(zhì)分析。 OE750實(shí)現(xiàn)高分辨率和寬動(dòng)態(tài)范圍要?dú)w功于采用了**CMOS探測(cè)
大家都知道光譜儀在日常生活中非常重要的作用。當(dāng)然了,直讀光譜儀使用結(jié)果的影響因素其實(shí)有很多,這里需要討論的不是光譜儀的使用過(guò)程中的影響因素,而且為普通的,開(kāi)始安裝操作,光譜儀的安裝其實(shí)并不難,但是無(wú)論是再好的儀器設(shè)備,操作失誤,日常保養(yǎng)落實(shí)不到位,對(duì)檢測(cè)數(shù)據(jù)結(jié)果和儀器的使用壽命都有很大影響,而正確的安裝是有著明顯的作用。以下兩點(diǎn)就是對(duì)于安裝直讀光譜儀相關(guān)內(nèi)容介紹。1.直讀光譜儀的配件除了儀器自身的
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