浙江鍍層測厚儀有哪些工作條件

時(shí)間：2023-04-13作者：江蘇一六儀器有限公司瀏覽：131

江蘇一六儀器有限公司專注于能量色散X熒光光譜儀,標(biāo)準(zhǔn)片,光譜儀測厚儀等

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  詞條說明

• X射線熒光光譜分析樣品制備及應(yīng)用

  X射線熒光光譜儀經(jīng)過這些年不斷的發(fā)展和技術(shù)完善，在很多方面都已經(jīng)得到了廣泛的應(yīng)用。但是我們對于它的了解并不多。如果我們想要好地使用它，讓它為我們提供準(zhǔn)確的測量結(jié)果，我們必須要了解相關(guān)的內(nèi)容才行。今天就跟著X射線熒光光譜儀生產(chǎn)廠家一六儀器的小編來了解一下吧。X射線熒光光譜分析樣品制備：進(jìn)行X射線熒光光譜分析的樣品，可以是固態(tài)，也可以是水溶液。無論什么樣品，樣品制備的情況對測定誤差影響很大。對金屬樣

• 一六儀器教你如何正確選擇臺式膜厚測量儀

  隨著市場上各種光譜儀、膜厚儀品牌越來越多，讓很多人在選購時(shí)也是眼花繚亂，不知道如何選擇。接下來和一六儀器儀器了解如何正確選擇臺式膜厚測量儀。選擇臺式膜厚測量儀時(shí)需要考慮以下幾個(gè)方面：范圍和精度：首先要根據(jù)所需測量的膜厚范圍和精度來選擇合適的測量儀器。在選擇時(shí)需要注意，所選儀器的量程范圍應(yīng)該能夠滿足實(shí)際需要，并且精度要求要和實(shí)際應(yīng)用場景相匹配。探頭類型：不同類型的探頭有著不同的特點(diǎn)。如磁感應(yīng)式探頭適

• XU-100光譜測厚儀相比其他品牌測厚儀有哪些優(yōu)勢？

  XU-100光譜測厚儀采用下照式C型腔體設(shè)計(jì)，搭配微聚焦X射線發(fā)生器和高集成垂直光路系統(tǒng)，以及高敏變焦測距裝置，對各種大小異形件都可快速、精準(zhǔn)、無損測量。檢測各種金屬鍍層，檢出限可達(dá)0.005μm,較近測距光斑擴(kuò)散度10%以內(nèi)，凹槽深度測量范圍可達(dá)030mm,是一款測量鍍層厚度*、適用性強(qiáng)的機(jī)型。① 下照式設(shè)計(jì)：可以快速方便地定位對焦樣品。② 高精密微型移動(dòng)滑軌：快速精準(zhǔn)定位樣品。③ 微焦X

• X射線熒光光譜測厚儀的優(yōu)勢介紹

  市面上常見的材料成分厚度測試的方法有：金相顯微鏡法、庫倫法、磁性法、電渦流法、X光射線法等。這些方法都有自己的特點(diǎn)和優(yōu)勢。金相顯微鏡法耗費(fèi)時(shí)間長和庫倫法一樣都屬于破壞性測試，磁性法和電渦流法的應(yīng)用范圍窄，那X光射線法有什么特點(diǎn)呢?今天就跟著X射線熒光光譜測厚儀生產(chǎn)廠家一六儀器的小編來說一說吧。X光射線法的測試原理：X射線射到電鍍層表面，產(chǎn)生X射線熒光，根據(jù)熒光譜線元素能量位置及其強(qiáng)度確定鍍層組成及