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KX200-X ?氧氣分析儀?氧氣分析儀:氧氣分析儀采用進口電化學、離子流、氧化鋯或磁氧傳感器,結合先進的MCU技術研發而成的新型智能化工業級氣體分析儀。?技術參數:▌測量原理:電化學/氧化鋯/離子流/磁氧/激光氧▌測量范圍:O2:0-1000ppm/10%-99.99%(量程任選)▌分 ?辨 ?率:0.1ppm/1ppm/0.01%/0.1%▌允
>微量氧分析儀的校準一般有兩種。露點儀直接測出露點溫度的儀器。使一個鏡面處在樣品濕空氣中降溫,直到鏡面上隱現露滴的瞬間,測出鏡面平均溫度,即為露點溫度。露點分析儀它測濕精度高,但需光潔度很高的鏡面,精度很高的溫控系統,以及靈敏度很高的露滴(冰晶)的光學探測系統。使用時必須使吸入樣本空氣的管道保持清潔,否則管道內的雜質將吸收或放出水分造成測量誤差。1、 瓶裝設計規范氣校準:不要選擇零點氣體和量
KX200-X ?氧氣分析儀?氧氣分析儀:氧氣分析儀采用進口電化學、離子流、氧化鋯或磁氧傳感器,結合先進的MCU技術研發而成的新型智能化工業級氣體分析儀。?技術參數:▌測量原理:電化學/氧化鋯/離子流/磁氧/激光氧▌測量范圍:O2:0-1000ppm/10%-99.99%(量程任選)▌分 ?辨 ?率:0.1ppm/1ppm/0.01%/0.1%▌允
紅外線氣體分析儀是利用紅外線進行分析。它基于待分析組分的濃度不同,吸收的輻射能不同.剩下的輻射能使得檢測器里的溫度升高不同,動片薄膜兩邊所受的壓力不同,從而產生一個電容檢測器的電信號。這樣,就可間接測量出待分析組分的濃度。1.比爾定律紅外線氣體分析儀是根據比爾定律制成的。假定被測氣體為一個無限薄的平面.強度為k的紅外線垂直穿透它,則能量衰減的量為:I=I0e-KCL(比爾定律)式中:I--被介質吸
公司名: 西安科訊自動化控制系統有限公司
聯系人: 李工
電 話: 18066798502
手 機: 18066798502
微 信: 18066798502
地 址: 陜西西安蓮湖區陜西省西安市蓮湖區高新二路2號山西證券大廈11層11C024
郵 編:
網 址: xakxzdh.b2b168.com
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