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如何使用SPMI協(xié)議分析儀檢測PMIC板子焊接問題
使用SPMI協(xié)議分析儀檢測焊接問題,核心是通過信號完整性分析和協(xié)議交互異常定位來反向推斷硬件連接缺陷。以下是具體操作步驟和關(guān)鍵方法:一、硬件連接與環(huán)境準(zhǔn)備1.?物理連接驗證o?探針配置:將分析儀的差分探針(如SCLK、SDATA、GND)正確連接到PMIC和主處理器的SPMI引腳,確保探針與焊盤緊密接觸。若焊接存在虛焊,探針接觸不良可能導(dǎo)致信號丟失或誤判。o?電源與地
了解 I2C 通信中的時鐘拉伸以及 PGY-I2C-EX-PD 如何簡化調(diào)試
了解 I2C 通信中的時鐘拉伸以及 PGY-I2C-EX-PD 如何簡化調(diào)試?在現(xiàn)代嵌入式系統(tǒng)中,設(shè)備之間的高效通信至關(guān)重要,尤其是在使用I2C(內(nèi)部集成電路)等協(xié)議時。確保快速主服務(wù)器和較慢從服務(wù)器之間平滑數(shù)據(jù)傳輸?shù)年P(guān)鍵機(jī)制之一是 clock stretch。本博客探討了 clock stretching 的重要性、工程師面臨的挑戰(zhàn)以及 PGY-I2C-EX-PD 工具如何提供有效的解
Prodigy測試解決方案,適合 ASIC、SoC、AI 芯片等多種類型的芯片項目
印度Prodigy Technovations是MIPI和JEDEC 標(biāo)準(zhǔn)的貢獻(xiàn)成員,也是目前全世界排名**的UFS/UniPro協(xié)議分析儀(Analyzer)及訓(xùn)練器(Exerciser)的測試廠商,為復(fù)雜的系統(tǒng)級芯片(SoC)設(shè)計的半導(dǎo)體客戶提供先進(jìn)和快速的測試解決方案。Prodigy先進(jìn)的測試解決方案,適合 ASIC、SoC、AI 芯片等多種類型的芯片項目,尤其適用于對驗證效率和接口靈活性有
I2C/SPI 鍛煉者器和協(xié)議分析器 I2C協(xié)議分析器和SPI協(xié)議分析器(PGGY-I2C / SPI-EX-PD)是具有多個功能的協(xié)議分析儀,用于在被測托管和設(shè)計之間捕獲和調(diào)試通信。 PGY-I2C/SPI-EX-PD 是良好的儀器,通過配置 PGY-I2C/SPI-EX-PD 作為主/奴隸、生成 I2C/SPI 流量和解碼 I2C/SPI 協(xié)議解碼數(shù)據(jù)包,使設(shè)計和測試工程師能夠測試各自的 I2
公司名: 深圳市歐奧電子科技有限公司
聯(lián)系人: 鄭陽燕
電 話: 19926571623
手 機(jī): 18588455974
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地 址: 廣東深圳龍華區(qū)昌盛科技大廈503
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Prodigy UHS-II 協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,歐奧電子供應(yīng)可用于芯片測試驗證

100BASE-T1汽車以太網(wǎng)協(xié)議分析儀

Prodigy I3C協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器 歐奧電子供應(yīng)用于芯片研發(fā)測試驗證

Prodigy SD eMMC AC/DC 測試儀, 歐奧電子OIOSYS芯片研發(fā)測試驗證

Prodigy PGY-LA Multi I3C協(xié)議分析儀 邏輯分析儀

歐奧MS100材料電子納米器件掃描探針顯微鏡

歐奧一鍵式全自動進(jìn)樣 納米MS100掃描探針顯微鏡適用半導(dǎo)體材料

歐奧原子級分辨率 納米MS100原子力顯微鏡/AFM適用納米器件
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