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高壓功率放大器在半導體測試中扮演著重要的角色。半導體測試是指對半導體器件進行各種電性能參數測試和質量檢測的過程。以下是關于高壓功率放大器在半導體測試中的應用的詳細介紹。一、高壓信號發生器:在半導體測試中,需要模擬高壓環境下的工作條件以評估半導體器件的性能和性。高壓功率放大器可以充當高壓信號發生器,產生高電壓信號用于輸入到被測器件。這些高壓信號可以模擬半導體器件在實際工作環境中的工作條件,以檢測其耐
實驗名稱:電壓放大器在低頻探測天線技術研究中的應用實驗設備:信號發生器,ATA-2161電壓放大器,LiNbO3材料,頻譜儀,線圈等。實驗內容:提出了一款工作在45kHz的壓電天線。分析壓電天線的遠場磁感應強度和輻射效率的理論計算公式,并通過在COMSOL中仿真不同壓電材料,不同圓柱體尺寸、不同鍍金厚度以及不同耦合環尺寸對壓電天線性能的影響,得到在遠場磁感應強度和輻射效率上都優異的壓電天線。實驗過
深度信息恢復是計算機視覺領域的一個重要研究內容。使用傳統的光學成像系統對不同距離的物體成像時,需要機械移動會造成圖像放大率變化,導致深度測量產生誤差。近年來,電控調焦的液晶透鏡光學成像系統已實現對焦、變焦、深度測量等功能,利用液晶透鏡光學成像系統進行雙目立體視覺深度測量可以擴張雙目深度測量范圍。雙目立體視覺深度測量步驟在對液晶透鏡的光焦度和像差等光學特性的研究過程中,研究發現了液晶透鏡的動態特性。
實驗名稱:功率放大器在MEMS微結構模態測試研究中的應用 研究方向:元器件測試 測試目的:隨著MEMS器件在各個領域中廣泛應用,對微結構進行模態測試獲得其動態特性參數對微結構的設計、、制造、以及質量控制和評價等方面具有十分重要的意義。考慮到微結構具有尺寸小、固有頻率高、振幅小等特點,且應用于不同環境中,因此,本文針對在高溫20~300℃環境下對單晶硅和304不銹鋼等截面矩形微懸臂梁進行模態測試,提
公司名: 西安安泰電子科技有限公司
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地 址: 陜西西安高新區緯二十六路369號中交科技城西區12號樓1-5層
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