X射線光譜方法測定

時(shí)間：2019-12-23作者：深圳市啟威測標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司瀏覽：336

深圳市啟威測標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司專注于表面微觀形貌SEM,材料斷口觀察SEM,表面成分分析EDS,微量污染物成分分析,涂鍍層厚度測試,表面粗糙度量測等

• 詞條

  詞條說明

• SEM及EDS測試范圍有哪些？

  SEM的二次電子成像分辨率約3nm背散射電子成像分辨率約300nmEDS成分分析的元素范圍Be~U分析深度約1μm檢測下限約1%空間分辨率約1μmSEM+?EDS常規(guī)服務(wù)項(xiàng)目:各種固體材料的形貌分析微區(qū)化學(xué)成分檢測樣品成分的線分布和面分布分析機(jī)械探針式測量方法:探針式輪廓儀測量范圍大，測量精度高，但它是一種點(diǎn)掃描測量，測量費(fèi)時(shí)。機(jī)械探針式測量方法是開發(fā)較早、研究充分的一一種表面輪廓測量方

• 表面微觀形貌的測量與評定

  表面形貌評定的**在于對特征信號無失真的提取和對使用性能的量化評定，國內(nèi)外學(xué)者在這一方面做了?大量工作，提出了許多分離與重構(gòu)方法。隨著當(dāng)今微機(jī)處理技術(shù)、集成電路技術(shù)、機(jī)電一體化技術(shù)等的發(fā)展。出現(xiàn)了用分形法、Motif法、功能參數(shù)集法、時(shí)間序列技術(shù)分析法、小二乘多項(xiàng)式擬合法、濾波法等各種評定理論與方法，**了顯著進(jìn)展。表面是由粗糙度，波紋度和表面形狀誤差3個部分構(gòu)成的。隨著現(xiàn)代測量精度的不

• 聚焦離子束（FIB）在成分分析中的應(yīng)用

  焦離子束工作原理：? 聚焦離子束顯微鏡(FIB)的利用鎵(Ga)金屬作為離子源，再加上負(fù)電場?(Extractor)?牽引**細(xì)小的鎵原子，而導(dǎo)出鎵離子束再以電透鏡聚焦，經(jīng)過一連串可變孔徑光闌，決定離子束的大小，再經(jīng)過二次聚焦以很小的束斑轟擊樣品表面，利用物理碰撞來進(jìn)行特定圖案的加工，一般單粒子束的FIB(Single Beam FIB)，可以提供材料切割、沉積金屬、

• 表面成分分析需要的工具有哪些？

  表面成分分析工具化學(xué)抽提法微譜技術(shù)實(shí)拍--氣相色譜儀微譜技術(shù)實(shí)拍--氣相色譜儀XRF法GC-MSLC-MSICP-MS核磁ICGPCXRD等金屬材料測試常用方法濕法分析直讀光譜（OES）電感耦合等離子體放射光譜（ICP-AES）電感耦合等離子體質(zhì)譜儀（ICP-MS）原子吸收光譜（AAS）手持式XRF