在電子電氣產(chǎn)品跌落試驗(yàn)中，產(chǎn)品不同的著地姿態(tài)（如正面著地、邊角著地、側(cè)面著地）對(duì)產(chǎn)品損壞程度有何不同影響及原因？

時(shí)間：2025-12-19作者：優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司瀏覽：235

優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司專注于高低溫測(cè)試,光老化測(cè)試,振動(dòng)沖擊測(cè)試,IP防護(hù)等級(jí)測(cè)試,鹽霧腐蝕測(cè)試,HALT測(cè)試,sem+eds測(cè)試,清潔度測(cè)試,工業(yè)CT掃描等, 歡迎致電 15827322876

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 優(yōu)爾鴻信檢測(cè)|電子電氣產(chǎn)品耐化學(xué)試劑檢測(cè)方法

  電子電氣產(chǎn)品耐化學(xué)試劑檢測(cè)是確保產(chǎn)品質(zhì)量和安全性的重要環(huán)節(jié)。以下是一些常見的檢測(cè)方法：一、浸泡法這是最基本的檢測(cè)方式。將電子電氣產(chǎn)品的樣品或其零部件完全浸泡在特定的化學(xué)試劑中。浸泡的時(shí)間和溫度需要根據(jù)產(chǎn)品的使用環(huán)境和相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。例如，對(duì)于一些可能接觸到酸性清潔劑的電子設(shè)備外殼，會(huì)將其浸泡在一定濃度的酸性試劑（如 pH 值為 3 - 4 的醋酸溶液）中 24 - 48 小時(shí)，溫度控制在 23℃±

• 優(yōu)爾鴻信精密量測(cè)|形位公差的定義

  形位公差指的是加工零部件存在尺寸公差，零部件幾何位置點(diǎn)、線、面的形狀位置，實(shí)際尺寸相對(duì)于理想尺寸總是會(huì)存在誤差，只是誤差范圍大小不同而已，這種幾何形狀差異，統(tǒng)稱為形位公差。優(yōu)爾鴻信精密量測(cè)實(shí)驗(yàn)室，認(rèn)可CMA/CNAS資質(zhì)，擁有獨(dú)立的超精密尺寸測(cè)量中心，提供基于ASME Y14.5.1-2019標(biāo)準(zhǔn)的，輪廓度公差測(cè)試實(shí)驗(yàn)室服務(wù)，提供產(chǎn)品幾何尺寸測(cè)量分析報(bào)告。

• 優(yōu)爾鴻信榮獲UL2799廢棄物零填埋認(rèn)證

  優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)（深圳）有限公司，于近日獲得UL2799廢棄物零填埋金級(jí)認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)，Zero Waste to Landfill Gold Operations。UL2799認(rèn)證UL2799提出廢棄物轉(zhuǎn)換方案及計(jì)算方法標(biāo)準(zhǔn)，包含了全球幾乎所有的廢棄物轉(zhuǎn)化方法。公司此次獲得的是UL2799（金級(jí)）認(rèn)證，該認(rèn)證要求廢棄物回收利用率95%以上。“從廢棄物到資源”的轉(zhuǎn)變已經(jīng)成為社會(huì)面臨的一個(gè)重要問(wèn)題，因?yàn)樗?/p>

• 金屬材料晶粒尺寸檢測(cè)有哪些常用方法？它們的精度和適用范圍分別是怎樣的？

  光學(xué)顯微鏡法原理和操作：這是最基本的方法。通過(guò)對(duì)金屬材料進(jìn)行適當(dāng)?shù)慕鹣嘀苽洌ㄈ缜懈睢⒀心ァ伖夂透g），使晶粒邊界顯現(xiàn)出來(lái)，然后在光學(xué)顯微鏡下觀察。利用顯微鏡的放大功能，可以直接測(cè)量晶粒的尺寸。精度：精度相對(duì)較低，一般可以精確到微米級(jí)別。例如，對(duì)于晶粒尺寸在 10 - 100 微米的材料，能夠得到比較準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果，但對(duì)于亞微米級(jí)別的晶粒，測(cè)量就比較困難。適用范圍：適用于晶粒尺寸較大（通常大于 1