微量污染物成分分析

時間：2019-12-23

作者：深圳市啟威測標準技術服務有限公司

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詞條說明
成分分析的作用及目的
成分分析的目的了解原料成份，質量監控分析產品中的各個組分比例，還原產品配方為產品標簽尋找證據證明產品不含某成份為產品性能下降找原因了解成份含量，以了解產品性能解決生產過程出現的問題比較不同時期的產品成分分析的作用煉鋼爐前分析——控制產品質量分析組成成分----還原配方工業問題診斷----分析原因，消除隱患成品檢驗——合格產品的質保書深圳市啟威測標準技術服務有限公司（簡稱“啟威測”或“QWC”）成立
X射線光譜方法測定
X射線光譜方法測定覆蓋層厚度是基于一束強烈而狹窄的多色X射線與基體和覆蓋層的相互作用。此相互作用產生離散波長和能量的二次輻射，這些二次輻射具有構成覆蓋層和基體元素特征。覆蓋層單位面積質量（若密度已知，則為覆蓋層線性厚度）和二次輻射強度之間存在一定的關系。該關系首先由已知單位面積質量的覆蓋層校正標準塊校正確定。若覆蓋層材料的密度已知，同時又給出實際的密度，則這樣的標準塊就能給出覆蓋層線性厚度。測試設
表面分析檢測包括哪些項目？
表面分析檢測項目：?材料表面（薄膜）基本力學性能（納米壓痕儀）?材料的硬度（顯微硬度計）?薄膜與基體的結合力（大載荷劃痕儀，納米劃痕儀）?抗摩擦磨損能力（摩擦磨損試驗機，劃痕儀）?表面應力分析（X 射線衍射儀，納米壓痕 model 軟件）?材料物理化學性能：?耐腐蝕性能（鹽霧試驗機）?電化學性能（電化學工作站）&nbs
SEM及EDS測試范圍有哪些？
SEM的二次電子成像分辨率約3nm背散射電子成像分辨率約300nmEDS成分分析的元素范圍Be~U分析深度約1μm檢測下限約1%空間分辨率約1μmSEM+?EDS常規服務項目:各種固體材料的形貌分析微區化學成分檢測樣品成分的線分布和面分布分析機械探針式測量方法:探針式輪廓儀測量范圍大，測量精度高，但它是一種點掃描測量，測量費時。機械探針式測量方法是開發較早、研究充分的一一種表面輪廓測量方