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詞條說明
1、原理:X射線照射樣品,經(jīng)過鍍層界面,射線返回的信號(hào)發(fā)生突變,根據(jù)理論上同材質(zhì)無限厚樣品反饋回強(qiáng)度的關(guān)系推斷鍍層的厚度。理論上兩層中含有同一元素測試很困難(信號(hào)分不開)。2、XRF鍍層測厚儀:俗稱X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等。功能:精密測量金屬電鍍層的厚度。應(yīng)用范圍:測量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成,測量范圍從22(Ti)到92(U)。
原理:X射線熒光X射線存在于電磁波譜中的一個(gè)特定區(qū)域,它由原子內(nèi)部電子躍遷產(chǎn)生,其波長范圍在0.1-100?;能量大于100電子伏特.X射線熒光是一個(gè)原子或分子吸收了特定能量的光子后釋放出較低能量的光子的過程。X ray fluorescence物質(zhì)受原級(jí)X射線或其他光子源照射,受激產(chǎn)生次級(jí)X射線的現(xiàn)象。它只包含特征X射線,沒有連續(xù)X射線。分別以原級(jí)、一級(jí)、二級(jí)X射線激發(fā),可產(chǎn)生一級(jí)、二級(jí)、三級(jí)X
鍍鋅層測厚儀是涂層測厚儀的一種。常規(guī)涂層測厚儀分磁感應(yīng)和渦流兩種,高頻渦流是另外一種高度的涂層測厚,ROHS光譜儀儀器很高。磁感應(yīng)測厚儀,探頭發(fā)出磁場,可以在磁性材料上形成磁性,非磁性涂層的大小,會(huì)影響這個(gè)磁性的大小,從而測量出對應(yīng)的涂層厚度。渦流測厚儀,探頭發(fā)出電渦流信號(hào),可以在導(dǎo)電材料上形成渦流,非導(dǎo)電涂層的厚薄,會(huì)影響這個(gè)渦流場的大小,從而計(jì)算出對應(yīng)的涂層厚度。這兩種方法的ROHS光譜儀儀器
判斷金屬元素很簡單的方法就是:煅燒法.每種金屬元素在煅燒的時(shí)候,顏色不一樣.比如鈉是黃色.如果要鑒定金屬元素的含量:1.光譜分析儀.優(yōu)點(diǎn)是一次可以分析多種元素,精度較高.缺點(diǎn)是ROHS光譜儀儀器太高,一套幾十萬到上百萬,所以目前只有少數(shù)大型企業(yè)使用.2.分光光度計(jì).優(yōu)點(diǎn)是檢測波長選擇方便,ROHS光譜儀儀器不高.缺點(diǎn)是檢測結(jié)果不能直接顯示(要換算);沒有曲線建立調(diào)用功能,檢測不同元素每次要重新定標(biāo)
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