材料斷口觀察SEM分析檢測

時間：2019-12-23作者：深圳市啟威測標準技術(shù)服務有限公司瀏覽：539

深圳市啟威測標準技術(shù)服務有限公司專注于表面微觀形貌SEM,材料斷口觀察SEM,表面成分分析EDS,微量污染物成分分析,涂鍍層厚度測試,表面粗糙度量測等

• 詞條

  詞條說明

• 表面微觀形貌的測量與評定

  表面形貌評定的核心在于對特征信號無失真的提取和對使用性能的量化評定，國內(nèi)外學者在這一方面做了?大量工作，提出了許多分離與重構(gòu)方法。隨著當今微機處理技術(shù)、集成電路技術(shù)、機電一體化技術(shù)等的發(fā)展。出現(xiàn)了用分形法、Motif法、功能參數(shù)集法、時間序列技術(shù)分析法、小二乘多項式擬合法、濾波法等各種評定理論與方法，取得了顯著進展。表面是由粗糙度，波紋度和表面形狀誤差3個部分構(gòu)成的。隨著現(xiàn)代測量精度的不

• 什么是表面微觀形貌SEM？

  表面所具有的微觀幾何形狀統(tǒng)稱為表面形貌(surface?topography)，?其中表面被定義為-?-種材料與其它材料之間的分界面"?(在工程表面的情況下，一種材料是空氣，另-種為固體材料，例如金屬、塑料等)。固體表面是指固體上代表實體和周圍環(huán)境邊界的部分。工程表面形貌代表著工件表面的主要外部特征，是由加工過程中的各種工序產(chǎn)生的。一個制件表面的微觀幾何形貌

• X射線光譜方法測定

  X射線光譜方法測定覆蓋層厚度是基于一束強烈而狹窄的多色X射線與基體和覆蓋層的相互作用。此相互作用產(chǎn)生離散波長和能量的二次輻射，這些二次輻射具有構(gòu)成覆蓋層和基體元素特征。覆蓋層單位面積質(zhì)量（若密度已知，則為覆蓋層線性厚度）和二次輻射強度之間存在一定的關(guān)系。該關(guān)系首先由已知單位面積質(zhì)量的覆蓋層校正標準塊校正確定。若覆蓋層材料的密度已知，同時又給出實際的密度，則這樣的標準塊就能給出覆蓋層線性厚度。測試設(shè)

• 聚焦離子束（FIB）在成分分析中的應用

  焦離子束工作原理：? 聚焦離子束顯微鏡(FIB)的利用鎵(Ga)金屬作為離子源，再加上負電場?(Extractor)?牽引尖端細小的鎵原子，而導出鎵離子束再以電透鏡聚焦，經(jīng)過一連串可變孔徑光闌，決定離子束的大小，再經(jīng)過二次聚焦以很小的束斑轟擊樣品表面，利用物理碰撞來進行特定圖案的加工，一般單粒子束的FIB(Single Beam FIB)，可以提供材料切割、沉積金屬、