芯片手術芯片開封介紹

時間：2020-04-01作者：儀準科技（北京）有限公司瀏覽：165

儀準科技（北京）有限公司專注于手動探針臺,probe,station等

• 詞條

  詞條說明

• x-ray無損檢測

  X光無損檢測 祝大家新年快樂，2020年注定是不平凡的一年，在艱難中開始，感恩奮戰(zhàn)在抗疫*的白衣天使，感恩提供**的各級**，感恩社會各界的愛心人士，目前我們對社會較好的回報就是做好本職工作，隔離好自己和身邊的人，多做事，少走動。 新新冠狀病毒的到來，讓很多原本的計劃被打亂被改動，目前北方市場急需完善的第三方實驗室，專業(yè)的技術，成套的檢測設備，為滿足用戶檢測多樣化，就近服務的要求，我中心專門安裝

• 失效分析樣品準備

  失效分析樣品準備： 失效分析是芯片測試重要環(huán)節(jié)，無論對于量產樣品還是設計環(huán)節(jié)亦或是客退品，失效分析可以幫助降低成本，縮短周期。 常見的失效分析方法有Decap，X-RAY，IV，EMMI，F(xiàn)IB，SEM，EDX，Probe，OM，RIE等，因為失效分析設備昂貴，大部分需求單位配不了或配不齊需要的設備，因此借用外力，使用對外開放的資源，來完成自己的分析也是一種很好的選擇。我們選擇去外面測試時需要準備

• 北軟失效分析實驗室參觀

  畢業(yè)季臨近，一大批高校學子將 走出校園，踏入全新的科創(chuàng)生涯 特殊時期，困難攔不住研學實習的腳步 芯學院全新業(yè)務“企業(yè)認知實習”正在進行中 首站云端實習聯(lián)合北京工業(yè)大學 為莘莘學子提供線上實習寶貴機會 北京軟件產品質量檢測檢驗中心的參觀過程中，講解員首先向同學們介紹了兩臺高低溫實驗箱和一臺激光開封機，然后在高潔凈空間實驗室中依次介紹了探針臺、IV曲線測試儀、EMMI（微光顯微鏡）、芯片切割制樣設備、

• 失效分析2018年技術分享活動

  2018年失效分析技術分享活動，儀準科技自2012年在北京建立以來，一直受到半導體行業(yè)內**們的支持與鼓勵，這6年來，有贊美，有夸獎，有磕絆，也有不足；感謝大家一直以來的包容與支持，**們之間的反饋與意見是我們進步的較大推動力。 我們也一直在半導體行業(yè)中努力吸收新鮮知識，緊跟行業(yè)潮流，完善公司設備及技術要求，盡我們的較大努力，去達到實驗標準。 儀準科技特此推出2018年年中的優(yōu)惠活動，以此來回饋新